測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復(fù)精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:04-06 2023 來自:祥宇精密
品檢二次元測量儀有兩種測量方法,一種是切線法,一種是采點計算法。
切線法是指人工旋轉(zhuǎn)屏幕上或者鏡頭內(nèi)刻線,分別對準(zhǔn)工件兩條邊線,通過編碼器或者圓光柵計數(shù)來測量角度的方法。切線法操作方便簡單,但是測量精讀低,適合快速批量檢測,如果被測件角度精讀要求較高。采點計算法所有的幾何元素都是有點組成的,包括基本元素直線,曲線和圓弧。二維平面角度由基本幾何元素兩條直線組成,直線由無數(shù)的點組成。所以角度測量準(zhǔn)確與否,采點是最關(guān)鍵的。
二次元影像儀本身的硬件CCD以及光柵尺,通過USB及RS232數(shù)據(jù)線傳輸?shù)诫娔X的數(shù)據(jù)采集卡中,將光信號轉(zhuǎn)化為電信號,之后由影像測量儀軟件在電腦顯示器上成像,由操作員用鼠標(biāo)在電腦上進(jìn)行快速的測量。如果電腦配置附合要求,測量軟件絕對不會產(chǎn)生圖像滯后現(xiàn)象。根據(jù)測量工件大小的不同,也可以選擇不同行程的工作臺面。光源亮度可以在各種光線條件下選擇最合適的光源亮度。光源類型(分為底光和表面光)可根據(jù)測量工件來進(jìn)行調(diào)節(jié)控制以達(dá)到最好的效果。
400-801-9255